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更新時(shí)間:2025-04-22
瀏覽次數(shù):799FISCHERSCOPE X-RAY XDL210/220/230/240菲希爾X射線測(cè)厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認(rèn)可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似,它尤其適合無損測(cè)量鍍層厚度及材料分析,同時(shí)還能全自動(dòng)測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板。
菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL210比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率,這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。由于采用了Fischer 基本參數(shù)法,無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測(cè)量。可同時(shí)測(cè)量從氯(17)到鈾(92)中的24 種元素。
XDL210型X 射線光譜儀有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。
XDL210系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
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