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華東代理fischer xdl-b鍍層測厚儀 FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基于Windows 的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測量方向從上往下，單一鍍層、二元合金層、三元合金層和雙鍍層例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/C

多功能電解質(zhì)測厚儀COULOSCOPE CMS2 作為測量鍍層厚度*簡單的方法之-一，庫侖法可以用于各種鍍層組合。尤其對于多鍍層結構，當 允許破壞性測量時，它提供了一個比X射線更經(jīng)濟的替代方法。*并且用戶友好的COULOSCOPE CMS2適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品的質(zhì)量檢驗

Fischer鐵素體校準標準片 套件（含證書） Helmut Fischer提供鑒定過的校準標準片供客戶校準儀器，這些標準片可以追溯到TWI二級標準片。標準片上標明了兩種單位：鐵素體個數(shù)FN和百分比含量%Fe?？赏ㄟ^發(fā)貨前設置修正系數(shù)或用客戶定制的標準片校準儀器來減少工件幾何形狀（曲率、厚度等）對測量的影響

德國FISCHER公司X-RAY熒光測厚儀 HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗。 通過對所有相關過程包括X射線熒光測量法的精確處理和使用了新的軟件和硬件技術，F(xiàn)ISCHER 公司的X射線儀器具有其*的特點

fischer elektronik測厚儀代理現(xiàn)貨 涂鍍層測厚儀 別名：涂層測厚儀，鍍層厚度測量儀，涂鍍層厚度無損測量儀，手持式涂鍍層測厚儀，表面電鍍層厚度測量儀，油漆涂層測厚儀，便攜式涂層測厚儀，*涂層測厚儀，無損測厚儀，覆層測厚儀。。。

德國HELMUT FISCHER鐵素體含量測量儀 Feritscope FMP30采用磁導原理，鐵素體含量是通過磁導率確定。主要性能參數(shù)是通過在較有名實驗室里大量實驗樣件的基礎上得到，并存儲在儀器內(nèi)。通過正確校準標準試塊測量鐵素體含量，測量的精度得到改進、提高。

菲希爾smp350 SIGMASCOPE®SMP350 根據(jù)渦流相位法DIN EN 2004-1 和 ASTM E 1004 測量電導率。 這種方法允許無接觸測量，即使隔著油漆或者厚達500μm的塑料涂層，這種方法也幾乎不受表面粗糙度的影響。