上海庫侖電解測厚儀Couloscope CMS2 STEP
COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線路板上剩余純錫的厚度，庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。

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更新時間：2025-08-31
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上海庫侖電解測厚儀Couloscope CMS2 STEP

-----庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差

【簡單介紹】

COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線路板上剩余純錫的厚度，庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。這個方法主要應用于檢查電鍍層的質量，現在也適用于監控印刷線路板剩余純錫的厚度。

COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差
使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線路板上剩余純錫的厚度，庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。這個方法主要應用于檢查電鍍層的質量，現在也適用于監控印刷線路板剩余純錫的厚度。
COULOSCOPE® CMS2 STEP
CMS2 STEP 的特征是STEP測試功能（同時測定厚度和電位差）。在多層鎳的質量監控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化STEP測試（根據ASTM B764-94和DIN 50022）。鍍層厚度根據庫侖法得出，而電位差則由一個鍍有AgCl的銀電極得到。
COULOSCOPE® CMS2
CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結構; 它的工作原理是根據陽極溶解的庫侖法（DIN EN ISO 2177）。簡單的操作和菜單化的操作指導使CMS2成為電鍍行業生產監控和質量檢驗理想的解決方法。設備為不同的鍍層結構配備了近100個預留的應用程式（例如，鐵上鍍鋅，黃銅上鍍鎳）, 以及各種電解速度（例如1, 2, 5, and 10 μm/min）。這些應用程式適用于多鍍層系統。

序號	描述	規格型號
01	庫侖測厚儀 CMS2 STEP 采用庫侖方法的鍍層測量儀，有中文操作系統，并且可以測量多層鎳厚度及電位差。大 LCD 顯示器；帶鍵盤；預先定義大約 100 種常用金屬鍍層；50 條存儲記錄用于特定應用的參數和 3000 個測量值。該價格包括電源電纜，塑料灰塵罩及操作手冊。	605-087
02	V24 測量臺	600-782
03	庫侖標準片 STEP 光亮鎳：6 μm 左右半光亮鎳：10 μm 左右測量面積：60 mm×50 mm 分隔為 25 個方形區域分別標定帶證書	605-008
04	庫侖法電解液 F22 1L 因受溫度影響，使用前請將 PH 值調到 2.9 左右。	603-547
05	庫侖標準片 Cu/Fe 10-15um Cu：10 - 15 μm 測量面積：60 mm×50 mm 分隔為 25 個方形區域分別標定帶證書	605-001
06	庫侖法電解液 F4 1L （國內提供）	600-822A
07	庫侖標準片 Ni/Cu 6-9um Ni：6 - 9 μm 測量面積：60 mm×50 mm 分隔為 25 個方形區域分別標定帶證書	605-004
08	庫侖法電解液 F6 1L （國內提供）	600-823A
09	庫侖標準片 Cr /Fe,Ni,Al Cr：0.1-0.3 μm 測量面積：60 mm×50 mm 分隔為 25 個方形區域分別標定帶證書	604-996
10	庫侖法電解液 F1 1L （國內提供）	600-820A
11	小臺虎鉗	600-800

COULOSCOPE® CMS2的特征
大尺寸高分辨率的彩色顯示器
簡單的操作和圖示的用戶指導
使用V18支架實現半自動化測量
電解速度和測量面積的簡單選擇（0.1 ----- 50 μm/min）和（0.6 ----- 3.2 mm Ø）
電壓曲線圖形顯示
圖形和統計分析多語言和計量單位可供選擇
COULOSCOPE® CMS2 STEP的特殊功能
同時測量鍍層厚度和電位差
銀參比電極的簡單準備
可調節的電解電流

COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位系統概述一個測量系統包括COULOSCOPE® CMS2或CMS2 STEP和一個有測量槽的支架（例如：STEP測量槽）。各種測量臺設計適合不同的應用。可選配件大量的可選配件使測量工作更便利，確保了安全的儲存并為固定工件提供輔助。校準校準時會產生一個修正系數。這是由于測量槽密封墊子的制造公差、鍍層密度的變化、合金成分的變化，需要該修正系數。

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